איתן אופנהיים, מנכ"ל ונשיא נובה מכשירי מדידה

יצרן שבבי זיכרון גלובלי נוסף בחר בפתרונות מדידת החומרים של נובה

רחובות, 2 באפריל 2019נובה (ת"א: נובה; נאסד"ק:(NVMI , , הודיעה היום כי יצרן שבבי זיכרון גלובלי מוביל בחר לאחרונה בפתרון החדשני ביותר למדידת חומרים בטכנולוגית X-Ray, עבור  קווי הייצור המתקדמים ביותר שלו. זכיה זו מוסיפה לקוח חדש לבסיס הלקוחות של חטיבת מדידות החומרים ומחזקת את המיצוב הייחודי של החברה כמובילה במדידת חומרים בפלח שוק שבבי הזיכרון.  החברה צופה הכנסות ראשוניות כבר ברבעון הראשון של 2019 וצופה המשך הזמנות מלקוח זה ב2019 עבור יישומים חדשים ואתרים נוספים.

פתרון המדידה  של נובה שנבחר על ידי לקוח מוביל זה הינו VeraFlex III+ XF, הדור המתקדם ביותר של טכנולוגיתXPS  (x-ray photoelectron spectroscopy), המשלב בנוסף יכולות  XRF (x-ray florescence). הפלטפורמה המתקדמת כוללת תכנון חומרה חדשני המאפשר ללקוחות גמישות מקסימלית במטרה לשפר את הרגישות, הדיוק והיעילות של המערכת, במגוון רחב של יישומים בטכנולוגיות המתקדמות ביותר של יצור שבבי זיכרון.

אדריאן וילסון, מנהל החטיבה למדידות חומרים של נובה הגיב על הזכייה: "אנו מחויבים לספק ליצרני השבבים הגדולים בעולם כלים המאפשרים ביצועים ייחודים ברמה הגבוהה ביותר. אנו גאים בכך שפלטפורמת ה XPS המשולבת בקווי הייצור הפכה כעת לכלי נבחר בקרב כל הלקוחות המובילים שלנו בתחום שבבי הזיכרון.  הפתרון שלנו  מאפשר ללקוחות החברה לפתור את האתגרים הגדלים בתהליכי הייצור הנובעים מכניסת טכניקות חדשות של הנדסת חומרים. היכולות המתקדמות של נובה בתחום ה-X-Ray למדידת הרכב חומרים ועובי שכבות, משתלבות עם ההשקעות הגדלות של לקוחותינו בשילוב חומרים פורצי דרך על מנת לשפר את ביצועי השבבים, מעבר לשינויים המסורתיים של מבנה וגודל".

דילוג לתוכן